人话...咳咳，学名叫做二次离子质谱仪
它能通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的原子或原子团吸收能量，而从表面发生溅射产生二次粒子。
这些带电粒子经过质量分析器后，就可以得到关于样品表面信息的图谱。
算是目前对物体内部穿透效果最好、同时精度也最高的设备。
例如咱们前一段的祝融火星车上就配备了这套仪器，网上有张祝融车的全景图，右下角30°左右便是SIMS仪的外接端口。
不过SIMS技术有两个缺陷：
一是它的成本非常高，高到离谱，哪怕是某爽都得辛苦个好几年。
一般来说，Ar+离子一个晚上大概能轰掉一微米的晶体体表，换到妖兽晶这种物体上，全套实验成本搞不定得大八位数甚至九位数都有可能。
毕竟这玩意一上ppb恐怕都不够，起底得拿到10ppt的量级才算完成任务。
第二就是...
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